超聲波探傷儀介紹:
一款功能實用、性能的數(shù)字式超聲探傷儀,其質(zhì)量水平符合國標(JB/T10061-1999)要求。采用一體化電路,免維護設(shè)計;便于儀器升級!
超聲波探傷儀功能和特點:
※一款操作及其方便的數(shù)字式超聲波探傷儀,大量了繁瑣的操作選項,使用起來得心應手。
※ 采用工控型CPU系統(tǒng),雙CPU協(xié)同工作,儀器控制部分與數(shù)據(jù)處理工作,系統(tǒng)運行高速可靠,現(xiàn)場性能。
※ 中文觸摸式鍵盤,直觀易記;中文操作提示,容易掌握,使用方便。
※ 自動測定儀器和探頭性能,儀器校準自動化,可測量材料厚度和材料聲速。日歷時鐘,儀器能自動記錄工作日期和時間。
※ 10個探傷頻道(可擴展至500個頻道),多種探傷工藝和探傷標準自動生成,可自由設(shè)置各行業(yè)探傷工藝標準,現(xiàn)場探傷無需攜帶試塊。
※ 回波抑制1~90%任意可調(diào),不影響儀器增益和線性。
※ DAC、AVG曲線自動生成并能分段制作,取樣點不受限制,并可進行補償與修正。DAC曲線隨增益自動浮動隨聲程自動擴展。可實現(xiàn)指定回波的距離波幅補償。
※ 缺陷回波參數(shù)(距離、水平、垂直、波幅、dB當量、孔徑Φ值)實時顯示。
※ 具有峰值記憶、回波包絡、波形凍結(jié)、焊縫截面示意等功能。
※ 進波報警功能,門位、門寬、門高任意可調(diào)。
※ 500組探傷工藝和數(shù)據(jù)存貯,FLASH RAM存儲器技術(shù)(同黑匣子),離電保存。
※ 數(shù)據(jù)處理能力強,可按日期和序號進行檢索和處理,可與計算機實現(xiàn)數(shù)據(jù)通訊。打印報告無需專配打印機。
※ 鋰電池供電,低功耗設(shè)計,可連續(xù)工作8小時以上。低電壓工作報警和自動保護關(guān)機。
※ 真彩顯示,大屏幕、高清晰、寬視角,不受電磁場干擾。在強陽光下無需遮光罩,就能獲得滿意的觀察效果。
※ ?。ê駜H50mm)、輕(含電池1.2Kg),單手把握的扶手和設(shè)計合理的背帶,使您在探傷時輕松自如,尤其適宜高空作業(yè)和移動性大的場合。
超聲波探傷儀主要技術(shù)指標:
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項目 |
CXUT-320 |
CXUT-350B |
CXUT-390 |
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探頭方式: |
直、斜、雙晶、竄透 |
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增益范圍: |
0~110dB(0.1,2.0,6.0dB步進) |
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探測范圍: |
1~6000.0mm鋼縱波 |
1~90000.0mm |
1~12000.0mm |
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頻帶寬度: |
0.4~15.0MHz |
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水平線性: |
<0.1% |
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垂直線性: |
<3.0% |
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分 辨 率: |
>32dB |
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>40dB |
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動態(tài)范圍: |
>30dB |
>32dB |
>36dB |
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靈敏度余量: |
>58dB(2.5MHz Φ20) |
>58dB |
>60dB |
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閘 門: |
門位、門寬、門高連續(xù)可調(diào) |
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DAC、AVG曲線: |
任意點,可選擇 |
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打印輸出: |
存儲波形和數(shù)據(jù) |
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顯 示 器: |
國產(chǎn) |
夏普 |
京瓷 |
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電池工作時間: |
>6小時 |
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工作溫度: |
-20℃~50℃ |
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電 源: |
7.2VDC,AC |
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外形尺寸: |
235(高)×140(寬)×50(厚)(mm) |
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整機重量: |
1.2Kg |
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便攜式探傷儀其他型號參數(shù)指標參數(shù):
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項 目 |
指 標 |
項 目 |
指 標 |
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增益范圍 |
120dB 0.1,1.0,2.0,6.0步進 |
閘 門 |
直方門和DAC門可選 進波門和失波門參數(shù)可調(diào) |
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頻帶寬度 |
0.4~15.0MHz |
聲程位移 |
0~5800mm(鋼中縱波) |
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探測范圍 |
0~6000.0mm(鋼中縱波) |
打印輸出 |
屏拷數(shù)據(jù)和存儲數(shù)據(jù) |
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探頭方式 |
單晶,雙晶,穿透 |
顯示器 |
5.7"高亮 TFT LCD |
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水平線性 |
≤0.1% |
工作時間 |
≥6小時 |
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垂直線性 |
≤3% |
工作溫度 |
-20℃~50℃ |
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分辨力 |
≥30dB |
電 源 |
16VDC;AC |
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靈敏度余量 |
≥65dB |
外形尺寸 |
250(高)X140(寬)X50(厚) |
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動態(tài)范圍 |
≥32dB |
整機重量 |
1.6Kg(含鋰電池) |
支持動態(tài)錄像功能,可記錄4 個動態(tài)記錄文件,每個文件可以以16 幀/ 秒的速度記錄2 分鐘實時波形。(可外接U
探傷功能:
波峰記憶:實時檢索缺陷高波,標定缺陷大值
實用AVG:實用AVG 曲線、自動換算缺陷φ 值(X>3N,N 為近場距離)
動態(tài)記錄:檢測實時動態(tài)記錄波形,存儲、回放
缺陷定位:實顯水平值P、深度值D、聲程值S
缺陷定量:實顯SL 定量值(DAC 曲線實時定量)
缺陷定性:通過包絡波形,人工經(jīng)驗判斷
曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算